總的來(lái)說(shuō)，原子吸收法中干擾效應(yīng)比原子發(fā)射光譜法要小得多，原因如下：

　�、�.AAS法中使用銳線光源，應(yīng)用的是共振吸收線，而吸收線的數(shù)目比發(fā)射線少得多，光譜重疊的幾率小，光譜干擾少;

　�、�.AAS法中，涉及的是基態(tài)原子，故受火焰溫度的影響小。但在實(shí)際工作中，干擾仍不能忽視，要了解其產(chǎn)生的原因及消除辦法。

　　在原子吸收光譜法中，干擾主要有物理干擾、化學(xué)干擾、光譜干擾和背景干擾等四類。

　　一、 光譜干擾

　　1.與光源有關(guān)的光譜干擾

　�、�.待測(cè)元素的分析線周圍有鄰近線引起的干擾

　　a. 與待測(cè)元素的分析線鄰近的是待測(cè)元素的譜線(單色器不能分開)。如鎳HCL發(fā)射的譜線(如圖8-19)，若選232.0nm的共振線作分析線，其周圍有很多鄰近線(非共振線)，如果單色器不能將其鄰近譜線分開，就會(huì)產(chǎn)生干擾，使測(cè)定的靈敏度下降，工作曲線彎曲。

　　消除的方法：減小狹縫寬度(如圖8-20)。

　　b. 與待測(cè)元素的分析線鄰近的是非待測(cè)元素的譜線(單色器不能分開)。如果此線為非吸收線，同樣會(huì)使測(cè)定的靈敏度下降，工作曲線彎曲;如果為吸收線，則產(chǎn)生假吸收，引起正誤差。這種現(xiàn)象常見于多元素?zé)簟?

　　消除的方法：采用單元素?zé)簟?

　�、�.HCL有連續(xù)背景發(fā)射，連續(xù)背景發(fā)射，不僅使測(cè)定的靈敏度下降，工作曲線彎曲，當(dāng)共存元素的吸收線處于背景發(fā)射區(qū)時(shí)，有可能產(chǎn)生假吸收。因此不能使用有嚴(yán)重背景發(fā)射的HCL。

　　消除的方法：遇到此情況，應(yīng)更換燈。